仪器介绍
椭圆偏振法测量的原理很早就已提出，相应的测试方法和设备也不断地被改进和创新，使得椭圆偏振法成为重要的测试手段，并广泛地应用在光学、材料、生物、医学等各个领域。其中测量薄膜材料的厚度、折射率和消光系数是椭圆偏振法基本和重要的应用之一 。
SGC-2自动椭圆偏振测厚仪产品特点
· 仪器采用消光式椭圆偏振方式测量
· 精度高、自动控制
· 光源采用氦氖激光，波长精度高
· 仪器采用USB接口与电脑连接
· 配套软件对采样数据具有多种处理方式，适用于不同需要
· 软件有完整版及学生版两种版本，适于教学要求
SGC-2自动椭圆偏振测厚仪参数
| 测量范围： | 1nm-400nm |
| 测量ZUI小值： | 小于等于1nm |
| 镀膜折射率范围： | 1.300-10.000 |
| 入射角： | 40°-90° |
| 方位角读数范围： | 0°-180° |
| 测量精度： | ±5nm |
| 厚度： | 小于等于10nm |
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